Title: Measurement of Gradation Curve by the Digital Test Pattern Method in a Computed Radiography System
Abstract:ディジタル撮影装置であるcomputed radiography(CR)は,サンプリングされた信号値の自由なコントロールが可能になり初めてそのディジタル化が意味を持つ.また,多くのデータをいかに効率よくコントロールするのかも重要な問題である.そのため,CRの階調処理には,画像認識機能を取り入れた自動階調処理が備えられ,階調タイプに適した読み取りラチチュードと感度値を与えてくれる.これらのパラメータ...ディジタル撮影装置であるcomputed radiography(CR)は,サンプリングされた信号値の自由なコントロールが可能になり初めてそのディジタル化が意味を持つ.また,多くのデータをいかに効率よくコントロールするのかも重要な問題である.そのため,CRの階調処理には,画像認識機能を取り入れた自動階調処理が備えられ,階調タイプに適した読み取りラチチュードと感度値を与えてくれる.これらのパラメータから得られるCRの特性曲線を測定することは,画像評価や,フィルム・スクリーンシステムとの比較,異機種間での比較には必要な情報の一つである.CRは,IP(imaging plate)のデータを読み取り,ディジタル値に変換するが,その後は,数値計算となる.入力データが既知で,出力データが取り出せるのならば,入出力の関係から,その内部処理が明らかになり,階調カーブが推測可能と考えられる.今回Digital Test Pattern法により,階調カーブの測定およびシミュレーションを行った.Digital Test Pattern法とは,binary editorを使用しパーソナルコンピュータで作製したステップパターンをCR本体に人力し,ハードコピーおよび出力ファイルで取り出すことにより階調カーブを測定する方法である.本報告での階調カーブとは,入力信号値から換算される仮想的な露光量(以下,実際の相対露光量とは区別するために,仮想露光量とする)とフィルム濃度の関係を表すものであり,相対X線量対出力信号値(pixel value)で表されるdigital特性曲線,入力信号値対フィルム濃度を表すキャリブレーションカーブ,ならびに,相対X線量対フィルム濃度を表すオーバーオール特性曲線とは区別した^<1〜3)>.Read More